Особливості використання методів Хаффмана та RLE для стиснення зображень в системах на мікроконтролерах
https://doi.org/10.30857/2786-5371.2023.6.2
ЦИТУВАТИ
- 22.11.2023
- 809 Переглядів
- Технології та інжиніринг - Т. 24, № 6, 2023
Аспірант
Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського»
03056, просп. Берестейський, 37, м. Київ, Україна
Ключові слова: стиснення зображення; метод Хаффмана; метод RLE; Run-length encoding
https://doi.org/10.30857/2786-5371.2023.6.2
ЦИТУВАТИ
Ключові слова: image compression; wavelet transforms; Haar wavelet; PSNR; SSIM
https://doi.org/10.30857/2786-5371.2023.3.2
ЦИТУВАТИ
Ключові слова: Хаар; Добеші; Коіфлет; Peak Signal-to-Noise Ratio; structural similarity index measure; мікроконтролер ESP32
https://doi.org/10.30857/2786-5371.2024.6.5
ЦИТУВАТИ